Busca
Afig filtres:
Utilitzeu filtres per a refinar els resultats de la cerca.
Resultats 1-1 de 1.
- Anterior pàgina
- 1
- Següent pàgina
Items:
Accés | Vista prèvia | Data publicació | Títol | Autor/s |
---|---|---|---|---|
de setembre-2000 | Caracterización de la profundidad de fase en materiales de registro holográfico mediante un método no interferométrico | Márquez, Andrés; Beléndez, Augusto; Campos Coloma, Juan; Pascual, Inmaculada; Yzuel Giménez, María Josefa; Fimia Gil, Antonio |