Busca
Afig filtres:
Utilitzeu filtres per a refinar els resultats de la cerca.
Resultats 1-2 de 2.
- Anterior pàgina
- 1
- Següent pàgina
Items:
Accés | Vista prèvia | Data publicació | Títol | Autor/s |
---|---|---|---|---|
d’octubre-2002 | Determinación de las constantes ópticas y el espesor de materiales de registro holográfico | Beléndez, Augusto; Ortuño, Manuel; Gallego, Sergi; Beléndez, Tarsicio; Neipp, Cristian; Pascual, Inmaculada | ||
10-de novembre-2002 | Determination of the refractive index and thickness of holographic silver halide materials by use of polarized reflectances | Beléndez, Augusto; Beléndez, Tarsicio; Neipp, Cristian; Pascual, Inmaculada |