Optimization of reconstruction geometry for maximum diffraction efficiency in HOE: the influence of recording material

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Título: Optimization of reconstruction geometry for maximum diffraction efficiency in HOE: the influence of recording material
Autor/es: Beléndez, Augusto | Pascual, Inmaculada | Fimia Gil, Antonio
Grupo/s de investigación o GITE: Holografía y Procesado Óptico
Centro, Departamento o Servicio: Universidad de Alicante. Departamento de Física, Ingeniería de Sistemas y Teoría de la Señal | Universidad de Alicante. Departamento de Óptica, Farmacología y Anatomía | Universidad Miguel Hernández. Departamento de Ciencia de Materiales, Óptica y Tecnología Electrónica
Palabras clave: Holography | Holographic recording materials | Holographic optical elements | Volume holograms
Área/s de conocimiento: Óptica | Física Aplicada
Fecha de creación: 1991
Fecha de publicación: 1-oct-1991
Editor: SPIE, The International Society for Optical Engineering
Cita bibliográfica: BELÉNDEZ VÁZQUEZ, Augusto; PASCUAL VILLALOBOS, Inmaculada; FIMIA GIL, Antonio. "Optimization of reconstruction geometry for maximum diffraction efficiency in HOE: the influence of recording material". En: International Colloquium on Diffractive Optical Elements : 14-17 May 1991, Szklarska Poreba, Poland. Bellingham, Wash. : SPIE, 1991. (Proceedings of SPIE; Vol. 1574). ISBN 978-0-81940-704-7, pp. 77-83
Resumen: In this paper the relation between recording and reconstruction geometries for maximum diffraction efficiency in thick holographic lenses is analyzed. Theoretical expressions are presented when variations in recording material due to processing are taken into account. A particular holographic lens is studied in both theoretical as well as experiment terms, finding the optimized reconstruction geometry for maximum diffraction efficiency and the aberration that appear.
URI: http://hdl.handle.net/10045/9362
ISBN: 978-0-81940-704-7
ISSN: 0277-786X
DOI: 10.1117/12.50126
Idioma: eng
Tipo: info:eu-repo/semantics/article
Derechos: Copyright 1991 Society of Photo-Optical Instrumentation Engineers. This paper was published in Proceedings of SPIE, vol. 1574, and is made available as an electronic reprint with permission of SPIE. One print or electronic copy may be made for personal use only. Systematic or multiple reproduction, distribution to multiple locations via electronic or other means, duplication of any material in this paper for a fee or for commercial purposes, or modification of the content of the paper are prohibited.
Revisión científica: si
Versión del editor: http://dx.doi.org/10.1117/12.50126
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