Caracterización de la profundidad de fase en materiales de registro holográfico mediante un método no interferométrico

Márquez, Andrés; Beléndez, Augusto; Campos Coloma, Juan; Pascual, Inmaculada; Yzuel Giménez, María Josefa; Fimia Gil, Antonio

Caracterización de la profundidad de fase en materiales de registro holográfico mediante un método no interferométrico

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Títol:	Caracterización de la profundidad de fase en materiales de registro holográfico mediante un método no interferométrico
Autors:	Márquez, Andrés \| Beléndez, Augusto \| Campos Coloma, Juan \| Pascual, Inmaculada \| Yzuel Giménez, María Josefa \| Fimia Gil, Antonio
Grups d'investigació o GITE:	Holografía y Procesado Óptico
Centre, Departament o Servei:	Universidad de Alicante. Departamento de Física, Ingeniería de Sistemas y Teoría de la Señal \| Universidad de Alicante. Departamento de Óptica, Farmacología y Anatomía \| Universidad Miguel Hernández. Departamento de Ciencia de Materiales, Óptica y Tecnología Electrónica \| Universidad Autónoma de Barcelona. Departamento de Física
Paraules clau:	Holography \| Holographic recording materials \| Holographic gratings
Àrees de coneixement:	Óptica \| Física Aplicada
Data de creació:	2000
Data de publicació:	de setembre-2000
Editor:	Sociedad Española de Óptica \| Universidad de Valladolid
Citació bibliogràfica:	MÁRQUEZ RUIZ, Andrés, et al. "Caracterización de la profundidad de fase en materiales de registro holográfico mediante un método no interferométrico". En: Actas de la VI Reunión Nacional de Óptica : 19-22 de Septiembre 2000, Medina del Campo. Valladolid : Universidad de Valladolid, 2000, pp. 437-438
Patrocinadors:	Este trabajo ha sido financiado por la Dirección General de Enseñanza del Ministerio de Educación y Cultura (proyecto PB96-1134-C02-01) y por la CICYT (proyecto MAT97-0705-C02-02).
URI:	http://hdl.handle.net/10045/9484
Idioma:	spa
Tipus:	info:eu-repo/semantics/bookPart
Revisió científica:	si
Apareix a la col·lecció:	INV - GHPO - Comunicaciones a Congresos, Conferencias, etc.

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