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Acceso | Vista previa | Fecha de publicación | Título | Autor/es |
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sep-2000 | Caracterización de la profundidad de fase en materiales de registro holográfico mediante un método no interferométrico | Márquez, Andrés; Beléndez, Augusto; Campos Coloma, Juan; Pascual, Inmaculada; Yzuel Giménez, María Josefa; Fimia Gil, Antonio |