Quality metrics in holographic lenses recorded in a low toxicity photopolymer

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Título: Quality metrics in holographic lenses recorded in a low toxicity photopolymer
Autor/es: Lloret, Tomás | Navarro-Fuster, Víctor | Morales-Vidal, Marta | Ramirez, Manuel G. | Berramdane, Kheloud | García-Vázquez, José Carlos | Pascual, Inmaculada
Grupo/s de investigación o GITE: Holografía y Procesado Óptico
Centro, Departamento o Servicio: Universidad de Alicante. Departamento de Óptica, Farmacología y Anatomía | Universidad de Alicante. Instituto Universitario de Física Aplicada a las Ciencias y las Tecnologías
Palabras clave: Holographic lenses | Photopolymers
Área/s de conocimiento: Óptica | Física Aplicada
Fecha de creación: 15-may-2022
Fecha de publicación: 15-jul-2022
Editor: Real Sociedad Española de Física
Cita bibliográfica: Lloret, T.; Navarro-Fuster, V.; Morales-Vidal, M.; Ramírez, M.G.; Berramdane, K.; García-Vázquez, J.C., Pascual, I., "Quality metrics in holographic lenses recorded in a low toxicity photopolymer". En: XXXVIII Bienal de la Real Sociedad Española de Física, Murcia, 11-15 de julio de 2022: libro de resúmenes, p. 532
Resumen: Holographic Lenses (HLs) are holograms obtained from the interference of an object point (object beam) and a plane beam (reference beam). Unlike conventional refractive lenses (RLs), their physical principle is diffraction, and in addition to spectral dependence, they also exhibit angular dependence. One of the main applications of such HLs is their use in AR optical systems such as head mounted displays (HMD). HLs also exhibit aberrations. To measure the impact of these aberrations, diffraction efficiency is not a suitable optical parameter. For this purpose, different quality metrics can be used. In this work, the quality of positive symmetrical and negative asymmetrical HLs has been evaluated by studying different metrics: optical quality metrics (Zernike and Seidel coefficients, RMS for Zernike and Seidel aberrations, and critical pupil fraction (PF); and image quality metrics based on the impulse response of the system (Strehl Ratio (SR), Entropy and cut-off frequency).
Patrocinador/es: This research was funded by Ministerio de Ciencia, Innovación y Universidades, Spain, under project PID2019-106601RB-I00; Generalitat Valenciana, Spain, under projects CDEIGENT/2018/024, PROMETEO/2021/006, and IDIFEDER/2021/014 (co-funded by European Union through the FEDER Programme); Universidad de Alicante, Spain, under UAFPU20-23.
URI: http://hdl.handle.net/10045/131280
ISBN: 978-84-09-46885-0
Idioma: eng
Tipo: info:eu-repo/semantics/conferenceObject
Derechos: © Real Sociedad Española de Física
Revisión científica: si
Aparece en las colecciones:INV - GHPO - Comunicaciones a Congresos, Conferencias, etc.

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