Efficient coupling integrals computation of waveguide step discontinuities using BI-RME and Nyström methods

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Título: Efficient coupling integrals computation of waveguide step discontinuities using BI-RME and Nyström methods
Autor/es: Taroncher Calduch, Máriam | Vidal Pantaleoni, Ana | Boria Esbert, Vicente Enrique | Marini, Stephan | Soto Pacheco, Pablo | Cogollos Borras, Santiago
Grupo/s de investigación o GITE: Holografía y Procesado Óptico
Centro, Departamento o Servicio: Universidad de Alicante. Departamento de Física, Ingeniería de Sistemas y Teoría de la Señal | Universidad de Alicante. Instituto Universitario de Física Aplicada a las Ciencias y las Tecnologías | Universidad Politécnica de Valencia. Departamento de Comunicaciones
Palabras clave: Nyström | BI-RME | Modal analysis
Área/s de conocimiento: Teoría de la Señal y Comunicaciones | Electromagnetismo
Fecha de creación: 2004
Fecha de publicación: 16-jun-2004
Editor: SPIE, The International Society for Optical Engineering
Cita bibliográfica: TARONCHER CALDUCH, Máriam, et al. "Efficient coupling integrals computation of waveguide step discontinuities using BI-RME and Nyström methods". En: Microwave and optical technology 2003 : Ostrava, 11-15 August 2003. Bellingham, Wash. : SPIE, 2004. (Proceedings of SPIE; Vol. 5445). ISBN 0-8194-5368-4, pp. 258-261
Resumen: This paper describes a novel technique for the very efficient and accurate computation of the coupling integrals of waveguide step discontinuities between arbitrary cross section waveguides. This new technique relies on solving the Integral Equation (IE) that provides the well-known Boundary Integral - Resonant Mode Expansion (Bi-RME) method by the Nystrom approach, instead of using the traditional Galerkin version of the Method of Moments (MoM), thus providing large savings on computational costs. Comparative benchmarks between the results provided by the new technique and the original BI-RME method are successfully presented.
URI: http://hdl.handle.net/10045/13728
ISBN: 0-8194-5368-4
ISSN: 0277-786X
DOI: 10.1117/12.560171
Idioma: eng
Tipo: info:eu-repo/semantics/article
Derechos: Copyright 2004 Society of Photo-Optical Instrumentation Engineers. This paper was published in Proceedings of SPIE, Vol. 5445, and is made available as an electronic reprint with permission of SPIE. One print or electronic copy may be made for personal use only. Systematic or multiple reproduction, distribution to multiple locations via electronic or other means, duplication of any material in this paper for a fee or for commercial purposes, or modification of the content of the paper are prohibited.
Revisión científica: si
Versión del editor: http://dx.doi.org/10.1117/12.560171
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