Hybrid Lockstep Technique for Soft Error Mitigation

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Título: Hybrid Lockstep Technique for Soft Error Mitigation
Autor/es: Peña-Fernández, Manuel | Serrano-Cases, Alejandro | Lindoso, Almudena | Cuenca-Asensi, Sergio | Entrena, Luis | Morilla, Yolanda | Martín-Holgado, Pedro | Martínez-Álvarez, Antonio
Grupo/s de investigación o GITE: UniCAD: Grupo de investigación en CAD/CAM/CAE de la Universidad de Alicante
Centro, Departamento o Servicio: Universidad de Alicante. Departamento de Tecnología Informática y Computación
Palabras clave: Soft errors | Proton irradiation | Dualcore | Lockstep | Multithreading | Fault tolerance
Área/s de conocimiento: Arquitectura y Tecnología de Computadores
Fecha de publicación: 7-feb-2022
Editor: IEEE
Cita bibliográfica: IEEE Transactions on Nuclear Science. 2022, 69(7): 1574-1581. https://doi.org/10.1109/TNS.2022.3149867
Resumen: This work presents the evaluation of a new dualcore lockstep hybrid approach aimed to improve the fault tolerance in microprocessors. Our approach takes advantage of modern multicore processor resources to combine a software-based lockstep with a custom hardware observer. The first is used to duplicate data and instruction flows; meanwhile, the second is in charge of the control-flow monitoring. The proposal has been implemented in a dualcore ARM microprocessor and validated with low energy proton irradiation and emulated fault injection campaigns. The results show an improvement of one order of magnitude in the cross-section of the benchmarks tested, even considering the worst-case scenario.
Patrocinador/es: This work has been supported in part by the Spanish Ministry of Science and Innovation under the projects PID2019-106455GB-C22, PID2019-106455GB-C21; and by the Community of Madrid under grant IND2017/TIC-7776.
URI: http://hdl.handle.net/10045/121845
ISSN: 0018-9499 (Print) | 1558-1578 (Online)
DOI: 10.1109/TNS.2022.3149867
Idioma: eng
Tipo: info:eu-repo/semantics/article
Derechos: © 2022 IEEE. Personal use of this material is permitted. Permission from IEEE must be obtained for all other uses, in any current or future media, including reprinting/republishing this material for advertising or promotional purposes, creating new collective works, for resale or redistribution to servers or lists, or reuse of any copyrighted component of this work in other works.
Revisión científica: si
Versión del editor: https://doi.org/10.1109/TNS.2022.3149867
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