Determinación de las constantes ópticas y el espesor de materiales holográficos

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Title: Determinación de las constantes ópticas y el espesor de materiales holográficos
Other Titles: Determination of the optical constants and thickness of holographic materials
Authors: Beléndez, Augusto | Ortuño, Manuel | Gallego, Sergi | Beléndez, Tarsicio | Neipp, Cristian | Pascual, Inmaculada
Research Group/s: Holografía y Procesado Óptico
Center, Department or Service: Universidad de Alicante. Departamento de Física, Ingeniería de Sistemas y Teoría de la Señal | Universidad de Alicante. Departamento de Óptica, Farmacología y Anatomía
Keywords: Holography | Holographic recording materials | Thin films | Optical constants
Knowledge Area: Física Aplicada | Óptica | Ciencia de Materiales e Ingeniería Metalúrgica
Date Created: 1-Feb-2003
Issue Date: Mar-2004
Publisher: Sociedad Española de Cerámica y Vidrio
Citation: BELÉNDEZ VÁZQUEZ, Augusto, et al. "Determinación de las constantes ópticas y el espesor de materiales holográficos". Boletín de la Sociedad Española de Cerámica y Vidrio. Vol. 43, N. 2 (Marzo-Abr. 2004). ISSN 0366-3175, pp. 457-460
Abstract: Se presenta una técnica experimental para determinar el índice de refracción, el coeficiente de absorción y el espesor de materiales de registro holográfico. Los materiales están depositados como capas finas sobre una lámina planoparalela de vidrio. Se determina experimentalmente la reflectancia en función del ángulo de incidencia para luz polarizada linealmente paralela al plano de incidencia, de modo que los valores del índice de refracción, el coeficiente de absorción y el espesor se obtienen ajustando la ecuación de la reflectancia teórica a los datos experimentales. Como ejemplos se han analizado emulsiones fotográficas y fotopolímeros, obteniéndose un buen ajuste entre la función teórica y los datos experimentales. | A technique to evaluate the refractive index, the absorption coefficient and the thickness of holographic recording materials is presented. The materials are in the form of a thin layer of film deposited on a thick glass plate. The experimental reflectances of p-polarized light are measured as a function of the incident angle, and the values of refractive index, thickness and absorption coefficient of the layer are obtained using the theoretical equation for reflectance. As examples, holographic silver halide emulsions and photopolymers are analyzed. The agreement between the calculated reflectances, using the thickness and refractive index obtained, and the measured reflectances is satisfactory.
Sponsor: Este trabajo ha sido subvencionado por la CICYT (proyecto MAT2000-1361-C04-04) y la Oficina de Ciencia y Tecnología de la Generalitat Valenciana (proyecto GV01-130).
URI: http://hdl.handle.net/10045/9679
ISSN: 0366-3175
Language: spa
Type: info:eu-repo/semantics/article
Peer Review: si
Appears in Collections:INV - GHPO - Artículos de Revistas

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