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Caracterización de la profundidad de fase en materiales de registro holográfico mediante un método no interferométrico

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Title: Caracterización de la profundidad de fase en materiales de registro holográfico mediante un método no interferométrico
Authors: Márquez, Andrés | Beléndez, Augusto | Campos Coloma, Juan | Pascual, Inmaculada | Yzuel Giménez, María Josefa | Fimia Gil, Antonio
Research Group/s: Holografía y Procesado Óptico
Center, Department or Service: Universidad de Alicante. Departamento de Física, Ingeniería de Sistemas y Teoría de la Señal | Universidad de Alicante. Departamento de Óptica, Farmacología y Anatomía | Universidad Miguel Hernández. Departamento de Ciencia de Materiales, Óptica y Tecnología Electrónica | Universidad Autónoma de Barcelona. Departamento de Física
Keywords: Holography | Holographic recording materials | Holographic gratings
Knowledge Area: Óptica | Física Aplicada
Date Created: 2000
Issue Date: Sep-2000
Publisher: Sociedad Española de Óptica | Universidad de Valladolid
Citation: MÁRQUEZ RUIZ, Andrés, et al. "Caracterización de la profundidad de fase en materiales de registro holográfico mediante un método no interferométrico". En: Actas de la VI Reunión Nacional de Óptica : 19-22 de Septiembre 2000, Medina del Campo. Valladolid : Universidad de Valladolid, 2000, pp. 437-438
Sponsor: Este trabajo ha sido financiado por la Dirección General de Enseñanza del Ministerio de Educación y Cultura (proyecto PB96-1134-C02-01) y por la CICYT (proyecto MAT97-0705-C02-02).
URI: http://hdl.handle.net/10045/9484
Language: spa
Type: info:eu-repo/semantics/bookPart
Peer Review: si
Appears in Collections:INV - GHPO - Comunicaciones a Congresos, Conferencias, etc.

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