Caracterización mediante Polarimetría de pantallas PA-LCoS bajo distintas geometrías y configuraciones eléctricas

Abstract

Recientemente hemos propuesto un nuevo método de caracterización de pantallas PALCoS basado en polarimetría de Stokes. Este método nos permite conocer tanto el retardo medio para cada nivel de gris como la amplitud de la fluctuación para cada nivel. También se estudió la robustez, repetibilidad y reproducibilidad del método. En este trabajo queremos mostrar la elevada capacidad de predicción de este método bajo distintas geometrías de trabajo y bajo diversas configuraciones eléctricas. En definitiva, mostramos como con el método de caracterización utilizado podemos predecir el estado de polarización a la salida del sistema, sin importar que configuración o geometría de trabajo utilicemos, lo cual es de gran importancia de cara al uso de PA-LCoS en aplicaciones ópticas y fotónicas.

We have recently proposed a novel polarimetric method, based on Stokes polarimetry for PA-LCoS displays. This method allows us to know the average retardance and the fluctuation amplitude for every gray-level. The robustness, repeatability and reproducibility were studied too. In this work we want to show the high predictive capability of this method, for different working geometries and for different electrical configurations. That is, we demonstrate that, using this method, we can predict the state of polarization reflected by the PA-LCoS whatever the working geometry or the electrical configuration. This will be very useful in optics and photonics applications that use PA-LCoS displays.