Mitigación automática de soft-errors en nuevas aplicaciones de los sistemas empotrados

Abstract

Las crecientes prestaciones de los microprocesadores, derivadas de la miniaturización de las tecnologías electrónicas, están provocando la aparición de nuevas aplicaciones de los sistemas empotrados en todos los ámbitos. Sin embargo, el empleo de las tecnologías nanométricas conlleva una mayor sensibilidad de los procesadores a los fallos transitorios inducidos por radiación (soft-errors). Por tanto, en el desarrollo de las nuevas generaciones de estos sistemas, y no solo en aquellos que deben trabajar en ambientes de alta radiación, la fiabilidad se está convirtiendo en un factor de creciente importancia. En este trabajo se presenta una infraestructura basada en compilador que permite el co-diseño de estos nuevos sistemas donde la tolerancia a fallos es un parámetro tan relevante como lo pueden ser el coste, el consumo o el rendimiento. Las herramientas desarrolladas facilitan la exploración del espacio de diseño existente entre las técnicas de protección puramente hardware y las técnicas basadas en la redundancia del software. De esta forma se obtienen soluciones híbridas con un mejor balance entre los distintos requisitos del diseño, habilitando a los sistemas empotrados para abordar nuevas aplicaciones de seguridad y misión crítica.